美國(guó)TSI 3330光學(xué)顆粒物粒徑譜儀簡(jiǎn)單輕便,能夠?qū)︻w粒物濃度和粒徑譜分布進(jìn)行快速和準(zhǔn)確的測(cè)量。基于TSI40年氣溶膠儀器設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)
更新時(shí)間:2024-01-22 | 廠商性質(zhì):代理商 |
訪問(wèn)量:2101 | 起訂量:>1 |
本款產(chǎn)品使用120度光散射角收集散射光強(qiáng)度和精密的電子處理系統(tǒng),從而得到高質(zhì)量和高精度的數(shù)據(jù)。
同時(shí),TSI工廠嚴(yán)格的標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)也確保儀器的精性。3330不僅可以單獨(dú)使用,而且還可以放入TSI的外場(chǎng)環(huán)境箱中在野外使用。
產(chǎn)品特點(diǎn):
美國(guó)TSI 3330光學(xué)顆粒物粒徑譜儀 技術(shù)參數(shù)
測(cè)量原則 :
120°光散射和濾膜采樣
濃度限制:
很高3,000個(gè)/ cm3 (3,000,000個(gè)/L)
質(zhì)量濃度 :
0.001-275,000 mg/m3
顆粒物粒徑:
檢測(cè)粒徑范圍:0.3-10 mm
粒徑分辨率:0.5mm時(shí)5%(符合ISO 21501-01/04)
粒徑通道 :很多16通道,用戶(hù)可調(diào)
北京楚齊儀表有限責(zé)任公司
地址:海淀區(qū)安寧莊西路9號(hào)宜品上層
©2019 版權(quán)所有:北京楚齊儀表有限責(zé)任公司 備案號(hào):京ICP備16005412號(hào)-4 總訪問(wèn)量:171237 站點(diǎn)地圖 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸